Autor: Roman Murawski
Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu im. Adama Mickiewicza
Format: ibuk
Testowanie oprogramowania, choć kluczowe dla powodzenia projektów IT, wciąż jest niedocenianą dziedziną inżynierii oprogramowania. Jednym z powodów jest brak rzetelnych i wiarygodnych źródeł informacji o tej dyscyplinie. Niniejsza pozycja... więcej >
Niniejsza książka jest wyjątkową pozycją na rynku literaturytesterskiej. Autorzy - praktycy testowania - przedstawiają rzeczywisteproblemy, z jakimi przyszło się im zmierzyć w pracy zawodowej oraz wjaki sposób starali się je rozwiązać.... więcej >
Drugi tom niezwykle życzliwie przyjętej przez Czytelników serii Testowanie oprogramowania w praktyce to kontynuacja idei opisywania przez praktyków – dla praktyków – rzeczywistych wyzwań zawodowych w dziedzinie inżynierii jakości... więcej >
Autor: Wojciech Morawski, Maciej Ślifirczyk, Stefan Babiarz, Paweł Borszowski, Aleksander Werner, Ziemowit Kukulski, Bogumił Pahl, Tomasz Grzybowski, Piotr Karwat, Dominik Mączyński, Jacek Brolik, Stanisław Bogucki, Anna Dumas, Jacek Leńczuk, Jadwiga Glumińska-Pawlic, Jarosław Wierzbicki, Witold Modzelewski, Adam Nita, Roman Wiatrowski, Małgorzata Dankowska, Wojciech Sztuba, Krzysztof Radzikowski, Krzysztof Teszner, Ewa Gwardzińska, Krzysztof Winiarski, Dominik J. Gajewski, Anna Drywa, Tomasz Kolanowsk
Wydawnictwo: Wolters Kluwer Polska SA
Format: pdf
Autor: Małgorzata Militz, Adam Bącal, Dagmara Dominik-Ogińska, Tomasz Siennicki, Ewa Michna, Roman Wiatrowski, Maciej Jaśniewicz, Piotr Ogiński
Wydawnictwo: Wolters Kluwer Polska SA
Format: pdf
Autor: Hanna Machińska, Piotr Kładoczny, Władysław Czapliński, Maciej Szpunar, Piotr Girdwoyń, Zbigniew Lasocik, Adam Zieliński, Jacek Jagielski, Krystyna Kowalik-Bańczyk, Stanisław Zabłocki, Mateusz Pilich, Mirosław Granat, Monika Płatek, Agnieszka Grzelak, Hanna Gronkiewicz-Waltz, Stanisław Biernat, Marek Zubik, Monika Florczak-Wątor, Jan Barcz, Adam Bodnar, Anna Śledzińska-Simon, Ewa Łętowska, Maciej Bernatt, Aleksandra Gliszczyńska-Grabias, Katarzyna Sękowska-Kozłowska, Roman Wieruszewski, Maciej T
Wydawnictwo: Wolters Kluwer Polska SA
Format: pdf