INNE EBOOKI AUTORA
Koszyk
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Autor:
Wydawca:
Format:
epub, mobi, ibuk
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.
Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
| Rok wydania | 2023 |
|---|---|
| Liczba stron | 450 |
| Kategoria | Metrologia |
| Wydawca | Wydawnictwo Naukowe PWN |
| ISBN-13 | 978-83-01-23339-6 |
| Numer wydania | 1 |
| Język publikacji | polski |
| Informacja o sprzedawcy | ePWN sp. z o.o. |
POLECAMY
Ciekawe propozycje
Spis treści
| Od Autora | 11 |
| 1. Informacje wprowadzające | 15 |
| 1.1. Wstęp | 15 |
| 1.2. Ogólne sposoby rozdzielania poszczególnych nierówności struktury geometrycznej powierzchni | 18 |
| 1.2.1. Sposób przybliżony | 19 |
| 1.2.2. Sposób mechaniczno-geometryczny | 20 |
| 1.2.3. Sposób wykorzystujący filtrację elektryczną | 21 |
| 1.2.4. Sposób z wykorzystaniem filtru odcinającego | 24 |
| 1.2.5. Sposób z wykorzystaniem analizy falkowej | 26 |
| 1.3. Tolerancje geometryczne | 26 |
| 1.3.1. Zarysy kształtu | 27 |
| 1.3.2. Zarysy odnoszące się do kierunku | 32 |
| 1.3.3. Zarysy odnoszące się do położenia elementu | 36 |
| 1.3.4. Zarysy odnoszące się do bicia | 41 |
| 2. Zamknięte zarysy okrągłości i falistości powierzchni | 46 |
| 2.1. Podstawowa terminologia i definicje w ujęciu tradycyjnym | 46 |
| 2.2. Podstawowa terminologia i definicje w nowym ujęciu | 48 |
| 2.3. Metody oceny zarysu okrągłości | 50 |
| 2.3.1. Analiza harmoniczna | 50 |
| 2.3.2. Parametry oceny zarysów okrągłości | 54 |
| 2.3.3. Parametry zarysów okrągłości według najnowszych norm | 61 |
| 2.4. Metody pomiaru zmian promienia | 65 |
| 2.4.1. Błędy przyrządów pomiarowych | 68 |
| 2.4.2. Nadzór metrologiczny przyrządów | 71 |
| 2.4.3. Program komputerowy ROFORM | 73 |
| 2.4.4. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych | 78 |
| 2.4.5. Przykłady wyników pomiarów okrągłości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej | 81 |
| 2.5. Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości | 83 |
| 2.5.1. Zasada pomiaru w metodach odniesieniowych | 83 |
| 2.5.2. Rodzaje metod odniesieniowych | 85 |
| 2.5.3. Zalecane parametry metod odniesieniowych | 91 |
| 2.5.4. Transformacja zarysu zmierzonego na zarys rzeczywisty | 97 |
| 2.5.5. Komputeryzacja metod odniesieniowych | 104 |
| 2.5.6. Program komputerowy SAJD | 106 |
| 2.5.7. Sposoby realizacji metod | 112 |
| 2.5.8. Przybliżona metoda oceny odchyłki okrągłości | 115 |
| 2.5.9. Istota odwróconych odniesieniowych metod pomiaru | 121 |
| 2.6. Odniesieniowe metody pomiaru do oceny falistości powierzchni dla zarysów zamkniętych | 128 |
| 3. Zarysy walcowości | 134 |
| 3.1. Pomiary zarysów walcowości ustalane metodą oceny zmian promieni | 134 |
| 3.1.1. Podstawowa terminologia i definicje | 134 |
| 3.1.2. Parametry oceny zarysów walcowości | 137 |
| 3.1.3. Dodatkowe parametry oceny zarysów walcowości | 141 |
| 3.1.4. Strategie pomiarowe | 143 |
| 3.1.5. Ocena zarysów walcowości – zasady prowadzenia pomiarów | 154 |
| 3.1.6. Eksperymentalna weryfikacja opracowanych strategii pomiarowych zarysów walcowości | 159 |
| 3.1.7. Komputeryzacja przyrządów pomiarowych | 164 |
| 3.1.8. Program komputerowy CYFORM | 168 |
| 3.2. Pomiary zarysów walcowości metodami odniesieniowymi | 170 |
| 3.2.1. Istota pomiarów zarysów walcowości | 170 |
| 3.2.2. Koncepcja odniesieniowych pomiarów zarysów walcowości | 172 |
| 3.2.3. Określenie zależności między zarysem zmierzonym a rzeczywistym | 174 |
| 3.2.4. Współrzędnościowe pomiary zarysów walcowości | 181 |
| 4. Zarysy prostoliniowości | 185 |
| 4.1. Podstawowe określenia i definicje | 185 |
| 4.2. Parametry oceny zarysów prostoliniowości | 187 |
| 4.3. Filtrowanie zarysów prostoliniowości | 189 |
| 4.4. Technika pomiarów zarysów prostoliniowości | 191 |
| 4.5. Program komputerowy LIFORM | 195 |
| 4.6. Przykłady pomiarów zarysów prostoliniowości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej | 196 |
| 5. Zarysy płaskości | 198 |
| 5.1. Podstawowa terminologia i definicje | 198 |
| 5.2. Parametry oceny zarysów płaskości | 200 |
| 5.3. Zasady prowadzenia pomiarów | 201 |
| 5.4. Strategie pomiarowe | 202 |
| 5.5. Przykłady pomiarów zarysów płaskości zaczerpnięte z praktyki przemysłowej | 206 |
| 6. Niedomknięte zarysy kształtu | 210 |
| 7. Zarysy kulistości | 221 |
| 7.1. Podstawowa terminologia i definicje | 221 |
| 7.2. Parametry oceny zarysów kulistości | 222 |
| 7.3. Strategie pomiarowe | 225 |
| 7.4. Eksperymentalna weryfikacja opracowanej koncepcji pomiaru odchyłek kulistości strategią kombinowaną oparta na kontrolowanym obrocie | 228 |
| 7.4.1. Modelowe stanowisko badawcze do dokładnych pomiarów odchyłek kulistości | 228 |
| 7.4.2. Badania eksperymentalne | 231 |
| 8. Ocena mikro- i nanochropowatości oraz falistości powierzchni | 237 |
| 8.1. Pomiary profilu | 237 |
| 8.1.1. Informacje podstawowe | 237 |
| 8.1.2. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych | 245 |
| 8.1.3. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów | 250 |
| 8.1.4. Wzorce kontrolne i użytkowe | 258 |
| 8.1.5. Komputeryzacja przyrządów do pomiaru falistości i chropowatości powierzchni | 270 |
| 8.2. Pomiary przestrzenne | 277 |
| 8.2.1. Informacje wstępne | 277 |
| 8.2.2. Parametry oceny powierzchni w układzie 3D | 278 |
| 8.2.3. Parametry związane z funkcyjnym przedstawieniem powierzchni w układzie 3D | 282 |
| 8.2.4. Wzorce przestrzennych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni | 287 |
| 9. Kompleksowe profilometryczne pomiary niedomkniętych zarysów kształtu | 299 |
| 9.1. Istota kompleksowych pomiarów zarysów niedomkniętych | 299 |
| 9.2. Program komputerowy PROFORM | 302 |
| 9.3. Kompleksowa ocena zarysu | 303 |
| 9.3.1. Ocena profilu chropowatości powierzchni | 303 |
| 9.3.2. Ocena profilu falistości powierzchni | 304 |
| 9.3.3. Ocena zarysu kształtu | 305 |
| 9.3.4. Statystyczna analiza wyników pomiaru | 306 |
| 9.4. Przykładowe kompleksowe pomiary zaczerpnięte z praktyki przemysłowej | 307 |
| 10. Statystyczne badania porównawcze przyrządów | 309 |
| 10.1. Eksperymentalny błąd pomiaru dla porównywanych przyrządów | 309 |
| 10.2. Statystyczne wyznaczenie błędu pomiaru odniesieniowych metod pomiarów zarysów okrągłości dla wybranych próbek z uwzględnieniem wartości odchyłki okrągłości | 310 |
| 10.2.1. Procedury estymacji i testu istotności dla wartości średniej eksperymentalnego błędu pomiaru | 311 |
| 10.2.2. Procedury estymacji i testu istotności dla wariancji i odchylenia średniego eksperymentalnego błędu pomiaru | 312 |
| 10.2.3. Oszacowanie przedziału ufności pojedynczego błędu pomiaru | 313 |
| 10.2.4. Ocena przykładowych wyników statystycznego testowania błędu pomiaru skomputeryzowanego odniesieniowego przyrządu pomiarowego z wzorcowym przyrządem Talyrond 73, którego działanie oparto na metodzie pomiaru zmian promienia | 313 |
| 10.3. Metoda statystycznego porównywania zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego | 315 |
| 10.3.1. Procedura estymacji punktowej współczynnika korelacji | 317 |
| 10.3.2. Przykładowa ocena wyników badań statystycznych porównywanych zarysów okrągłości z wykorzystaniem rachunku korelacyjnego | 319 |
| 11. Przyrządy pomiarowe | 321 |
| 11.1. Informacje podstawowe dotyczące metrologii ogólnej | 321 |
| 11.2. Ogólne informacje dotyczące elementów budowy i charakterystyki narzędzi pomiarowych | 322 |
| 11.2.1. Klasyfikacja przyrządów pomiarowych do pomiarów profilu | 327 |
| 11.2.2. Definicje dotyczące analizowanych profili | 329 |
| 11.2.3. Elementy składowe przyrządów stykowych | 330 |
| 11.2.4. Charakterystyki metrologiczne przyrządów | 333 |
| 11.2.5. Przykładowe wartości nominalne niektórych charakterystyk przyrządu | 334 |
| 11.3. Metody przestrzennego pomiaru powierzchni | 335 |
| 11.3.1. Metody profilowania liniowego | 337 |
| 11.3.2. Metody topografii przestrzennej | 340 |
| 11.3.3. Eksperymentalne porównanie wybranych metod przestrzennego pomiaru chropowatości powierzchni | 349 |
| 11.4. Odniesieniowe przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości | 355 |
| 11.4.1. Przegląd niektórych rozwiązań odniesieniowych przyrządów pomiarowych | 356 |
| 11.4.2. Rozwiązania oryginalnych pryzm wykorzystywanych do pomiarów odniesieniowych zarysów okrągłości | 372 |
| 11.4.3. Przyrząd do uzyskiwania wzorców zarysów okrągłości | 375 |
| 11.5. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów okrągłości metodą pomiaru zmian promienia (bezodniesieniowe) | 377 |
| 11.5.1. Rozwiązania konstrukcyjne stosowanych zespołów obrotowych wrzecion czujników pomiarowych | 379 |
| 11.5.2. Rozwiązania konstrukcyjne stołów obrotowych | 382 |
| 11.5.3. Przegląd przyrządów pomiarowych do oceny zarysów okrągłości | 384 |
| 11.6. Przyrządy pomiarowe do oceny zarysów walcowości | 387 |
| 11.6.1. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym wrzecionem | 389 |
| 11.6.2. Przyrządy do pomiarów zarysów walcowości metodą zmian promienia z obrotowym stołem | 392 |
| 11.6.3. Przegląd przyrządów do pomiaru zarysu walcowości i innych błędów powierzchni | 395 |
| 11.7. Przyrządy stykowe do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni | 402 |
| 11.7.1. Profilometry | 405 |
| 11.7.2. Kształtografy | 408 |
| 11.7.3. Przyrządy profilometryczne do kompleksowych pomiarów | 411 |
| 11.7.4. Przyrządy optyczne | 413 |
| Posłowie | 416 |
| Literatura | 420 |
| Załącznik | 433 |
KUP NA PREZENT
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
107,10 zł
Uzupełnij informacje na temat odbiorcy.
Produkt został pomyślnie dodany do koszyka.
Nieudana próba zakupu produktu. Spróbuj jeszcze raz.
Wypożyczaj w abonamencie!
Już od 2,66 zł za ebooka
