Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6

-20%

Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6

1 opinia

Format:

pdf, ibuk

DODAJ DO ABONAMENTU

WYBIERZ RODZAJ DOSTĘPU

21,36  26,70

Format: pdf

 

Dostęp online przez myIBUK

WYBIERZ DŁUGOŚĆ DOSTĘPU

6,15

Wypożycz na 24h i opłać sms-em

21,3626,70

cena zawiera podatek VAT

ZAPŁAĆ SMS-EM

TA KSIĄŻKA JEST W ABONAMENCIE

Już od 19,90 zł miesięcznie za 5 ebooków!

WYBIERZ SWÓJ ABONAMENT

Fototermika jest dziedziną nauki, która bada zjawiska powstające po absorpcji energii promieniowania elektromagnetycznego i przekazaniu materiałowi na sposób ciepła. Badaniami fototermicznymi można objąć materiały, które trudno zbadać konwencjonalnymi metodami – substancje bardzo dobrze rozpraszające światło, optycznie nieprzezroczyste lub charakteryzujące się bardzo małą absorpcją.


Praca przedstawia rezultaty badań wybranych półprzewodników A2B6 za pomocą piezoelektrycznej spektroskopii fototermicznej. Przeprowadzono systematyczne badania wpływu przygotowania próbek na przebieg amplitudy i fazy widma fototermicznego. Powierzchnie próbek poddano obróbce mechanicznej (szlifowanie, polerowanie), chemicznej (trawienie) oraz termicznej. Przeanalizowano podstawowe zagadnienia w spektroskopii fototermicznej – rozkład pola temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne. Przedstawiono symulacje widm amplitudy i fazy dla rożnych wartości parametrów termicznych i optycznych, typowych dla materiałów półprzewodnikowych.


Liczba stron138
WydawcaWydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
ISBN-13978-83-231-2972-1
Język publikacjipolski
Informacja o sprzedawcyRavelo Sp. z o.o.

INNE EBOOKI AUTORA

Ciekawe propozycje

Spis treści

  Wykaz oznaczeń /    7
  1. Wstęp /    9
  2. Równanie dyfuzji termicznej (przewodzenia ciepła) /    14
  2.1. Odbicie i załamanie fali termicznej /    18
  3. Rozkład temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne /    20
  3.1. Model Rosencwaiga i Gersho /    20
  3.2. Model interferencji fal termicznych /    25
  3.2.1. Rozkład temperatury wzdłuż grubości próbki /    28
  3.3. Model Jacksona i Amera (J-A) /    33
  3.4. Model Blonskiego /    36
  3.5. Rozkład temperatury w dwóch warstwach /    37
  4. Generacja sygnału piezoelektrycznego – odkształcenie próbki i detektora /    44
  4.1. Wzajemne położenie układu próbka–detektor–promieniowanie wzbudzające (model J–A) /    45
  5. Absorpcja w półprzewodnikach /    49
  5.1. Przejścia proste dozwolone /    49
  5.2. Przejścia pomiędzy ogonami pasm /    51
  6. Piezoelektryczne widma fototermiczne /    53
  6.1. Przebieg amplitudy i fazy widm fototermicznych /    54
  6.2. Zmiana parametrów symulacji /    56
  6.2.1. Wpływ podłoża /    56
  6.2.2. Grubość próbki /    58
  6.2.3. Poszerzenie ogona Urbacha (parametr ?) /    58
  6.2.4. Współczynnik kształtu /    60
  6.3. Rozszerzenia modelu, symulacje dla materiałów nieidealnych /    61
  6.3.1. Wpływ defektów obecnych w objętości próbki /    61
  6.3.2. Wpływ defektów obecnych na powierzchni próbki /    63
  7. Eksperyment /    68
  7.1. Układ pomiarowy /    68
  7.1.1. Komórka fototermiczna /    69
  7.2. Przygotowanie próbek /    70
  7.3. Selenek cynku /    71
  7.4. Kryształy mieszane /    85
  7.5. Zn1–x–yBexMnySe /    87
  7.6. Zn1–x–yBexMgxSe /    97
  7.7. CdS /    103
  7.8. CdSe /    106
  7.9. Inne efekty związane z powierzchnią /    110
  8. Podsumowanie /    111
  Aneks 1. Powierzchnia idealna a rzeczywista /    114
  Aneks 2. Zdefektowana warstwa przypowierzchniowa /    118
  Aneks 3. Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna półprzewodników – przegląd literatury /    121
  Bibliografia /    130
RozwińZwiń
W celu zapewnienia wysokiej jakości świadczonych przez nas usług, nasz portal internetowy wykorzystuje informacje przechowywane w przeglądarce internetowej w formie tzw. „cookies”. Poruszając się po naszej stronie internetowej wyrażasz zgodę na wykorzystywanie przez nas „cookies”. Informacje o przechowywaniu „cookies”, warunkach ich przechowywania i uzyskiwania dostępu do nich znajdują się w Regulaminie.

Nie pokazuj więcej tego powiadomienia